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世界球精选!提高薄膜光谱性能的膜厚监控方法

时间 :2023-06-17 10:57:57   来源 : 互联网


(资料图)

1、 《提高薄膜光谱性能的膜厚监控方法》是中国科学院上海光学精密机械研究所于2011年4月15日申请的专利,该专利的公布号为CN102191475A,申请号为2011100946607,授权公布日为2011年9月21日,发明人是朱美萍、易葵、邵建达、范正修。

2、 《提高薄膜光谱性能的膜厚监控方法》包括:(1)镀膜前向计算机输入镀膜参数:(2)通过计算机计算选择满足限制条件的监控波长λ和监控片数目,其中λMin<λ<λMax,得到一个与所镀膜系的镀膜监控表,包括所镀膜系按顺序的膜层、相应的监控波长和监控片序号;(3)镀膜等步骤。本发明能够自动选择监控波长和所需的最少监控片数目,采用比例式膜厚监控方法,减少了膜厚监控误差,提高了膜厚监控精度,可对规整膜系和非规整膜系进行监控。在膜厚监控系统控制精度不变的情况下,可有效地提高了薄膜的光谱性能。

3、 2018年12月20日,《提高薄膜光谱性能的膜厚监控方法》获得第二十届中国专利优秀奖。

4、 (概述图为《提高薄膜光谱性能的膜厚监控方法》摘要附图)

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